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殘余應(yīng)力的測量方法可以分為有損和無損兩大類。有損測試方法就是應(yīng)力釋放法，也可以稱為機(jī)械的方法；無損方法就是物理的方法。機(jī)械方法用得多的是鉆孔法（盲孔法），其次還有針對一定對象的環(huán)芯法。物理方法中用得多的是X射線衍射法，其他主要物理方法還有中子衍射法、磁性法、超聲法以及壓痕應(yīng)變法。X射線衍射法殘余應(yīng)力測量在各種無損測定殘余應(yīng)力的方法之中，X射線衍射法被認(rèn)為可靠和實用的。它原理成熟，經(jīng)歷了七十余年的進(jìn)程，在國內(nèi)外廣泛應(yīng)用于機(jī)械工程和材料科學(xué)，取得了好的成果。X-射線應(yīng)力測定儀是一...

激光功率計是用來測試連續(xù)激光的功率或者脈沖激光在某一段時間的平均功率的儀器。常用到激光能量計，用來探測重復(fù)脈沖激光的單發(fā)能量和單脈沖激光的能量。熱電堆型激光功率計通過熱電堆結(jié)構(gòu)將光能轉(zhuǎn)換成熱量，再轉(zhuǎn)換為電信號輸出，通過校準(zhǔn)來準(zhǔn)確測量激光功率的大小。激光功率計一般由探頭和顯示設(shè)備組成，激光功率計探頭按照不同的原理和材料分為熱電堆型、光電二極管型、以及包含兩種傳感器的綜合探頭，激光能量計則有熱釋電傳感器和熱電堆傳感器探頭。激光功率計采用了量熱吸收測量原理,其光譜響應(yīng)范圍0.19~...

激光能量計是在一管狀金屬外殼中依次設(shè)有探測器、與該探測器電連接的放大器以及信號輸出單元，并且在外殼的激光入射口和探測器之間，設(shè)有一陶瓷空心腔，該陶瓷空心腔為封閉的空心柱體，柱體的軸向與激光進(jìn)入殼體方向平行。本發(fā)明由于在探測器前設(shè)計了漫射式空心柱面陶瓷腔作為衰減器，使激光經(jīng)過陶瓷衰減腔后出射的是均勻場，因而可以在該均勻場中的任一位置使用小尺寸探測器探測，同時可有效避免探測器的局部損傷問題，使本發(fā)明的激光能量計可用于高能量密度激光的測量。目前脈沖激光能量測量的難度和需求增加,能滿...

lumetrics測厚儀采用光學(xué)干涉原理，能夠非常準(zhǔn)確地測量各種材料的厚度，包括塑料、金屬、陶瓷等。測厚儀是一種用于測量物體表面薄膜或涂層厚度的儀器。它具有許多優(yōu)點(diǎn)。首先，它使用的光學(xué)干涉原理使得其測量精度非常高，可以達(dá)到亞微米級別。其次，它具有非常廣泛的適用范圍，可以用于測量各種材料和形狀的物體，包括平面、球體、圓柱體等。此外，lumetrics測厚儀還非常易于操作，用戶只需要將待測物體放入測量儀器中即可自動完成測量過程。除了以上優(yōu)點(diǎn)外，還具有許多其他的特點(diǎn)和功能。例如，它...

殘余應(yīng)力是指構(gòu)件在制造過程中，將受到來自各種工藝等因素的作用與影響；當(dāng)這些因素消失之后，若構(gòu)件所受到的上述作用與影響不能隨之而消失，仍有部分作用與影響殘留在構(gòu)件內(nèi)，則這種殘留的作用與影響稱為殘留應(yīng)力或殘余應(yīng)力。150AT應(yīng)力雙折射系統(tǒng)用于殘余應(yīng)力檢測。該應(yīng)力雙折射測顯系統(tǒng)既可作為實驗室科研探索測量光學(xué)組件應(yīng)力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測樣品應(yīng)力情況，便于操作和日常監(jiān)測。150AT應(yīng)力雙折...

Gentec-EO小巧便攜且方便使用的激光功率計和能量計PRONTO系列所提供產(chǎn)品十分小巧，可隨身攜帶。對于經(jīng)常四處奔波或常使用激光等設(shè)備的修理維修人員，此為一種切實可行的解決方案。這些產(chǎn)品堅硬牢固，可隨處處理并移動，無需擔(dān)心發(fā)生損壞。這種操作簡單的解決方案不需要任何知識，只需將激光束對準(zhǔn)光圈，并在設(shè)備屏幕上直接讀取功率或能量測量。得益于我們的免費(fèi)專屬軟件，您甚至可利用數(shù)據(jù)記錄功能，在您的計算機(jī)上分析數(shù)據(jù)。Gentec-EO方便的無線設(shè)備，可在移動設(shè)備或計算機(jī)上測量激光功率如...