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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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gentec-eo激光功率計(jì)和能量計(jì)在這個(gè)領(lǐng)域擁有超過(guò)45年的歷史。 Gentec-EO功率計(jì)的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面。憑借45年的記錄以及從工廠(chǎng)到醫(yī)院和實(shí)驗(yàn)室提供激光功率和能量測(cè)量...
在硅太陽(yáng)能電池板的生產(chǎn)過(guò)程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過(guò)程中往往沒(méi)有被檢測(cè)到，我們描述了一種測(cè)量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測(cè)，它可以是方形的，也可以是生長(zhǎng)的，然后被鋸成硅片，當(dāng)這臺(tái)儀器被用作質(zhì)量控制工具時(shí)，在后續(xù)...
加拿大Gentec-EO是激光功率計(jì)能量計(jì)供應(yīng)商。UP -50W系列：50 mm Ø, 5 mW – 85 W, 100 kW/cm2。$n主要特點(diǎn)：$n1.模塊化概念$n增加您探頭的功率能...
Gentec Electro Optics提供全系列產(chǎn)品以滿(mǎn)足您的脈沖能量測(cè)量需求。Gentec-EO激光能量計(jì)從精益和便攜式QE12和QE25系列，大光圈QE50、QE65和QE95系列到我們的大型...
加拿大Gentec-EO 推出激光功率計(jì)能量計(jì)表頭，為擁有完整的激光功率測(cè)量系統(tǒng)，您將需要一款采集與讀出設(shè)備搭配您的功率探測(cè)器。我們提供不同功能的設(shè)備以滿(mǎn)足需求。無(wú)論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD...
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評(píng)估的主要應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器（ PE...
ENTERPRISE ADVANTAGE
選擇我們就是選擇高品質(zhì)，我們是您的信賴(lài)之選！
非接觸式、非破壞性，實(shí)時(shí)在線(xiàn)測(cè)量或離線(xiàn)測(cè)量
可單次測(cè)量多層膜，可測(cè)20層
探針靈活配置，實(shí)現(xiàn)多個(gè)不同目標(biāo)測(cè)量
測(cè)試速度快，適用范圍廣
關(guān)于我們
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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年，專(zhuān)業(yè)代理歐美（德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等）高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶(hù)提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括：光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品：應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測(cè)量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測(cè)厚儀/測(cè)角儀/可調(diào)相位延遲波片等；激光檢測(cè)產(chǎn)品：激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等；集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門(mén)...
技術(shù)支持
TCEHNICAL SUPPORT
Gentec-EO激光能量計(jì)采用了探測(cè)技術(shù)，能夠準(zhǔn)確地捕捉激光的能量。無(wú)論是連續(xù)激光還是脈沖激光，它都能有效地進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于不同波長(zhǎng)的激光，該能量計(jì)也展現(xiàn)出了良...
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角分辨散射儀是一種用于測(cè)量材料表面粗糙度和微觀(guān)結(jié)構(gòu)的儀器，以下是其基本工作原理：1.光的散射現(xiàn)象：當(dāng)一束激光投射到樣品表面上時(shí)，會(huì)發(fā)生反射和散射現(xiàn)象。除了鏡向方向的反射光外，還會(huì)有散射光分布在一個(gè)半球面內(nèi)，且半球面內(nèi)各點(diǎn)的光強(qiáng)不同。2.探測(cè)器接收信號(hào)：使用具有小但有限孔徑的探測(cè)器，沿著試樣周?chē)娜⑸淝蛏辖邮者@些不同分布的光強(qiáng)。探測(cè)器通?？梢試@樣品在入射平面內(nèi)作接近180°或360°的轉(zhuǎn)動(dòng)，從而測(cè)得非入射平面內(nèi)的散射光。3.數(shù)據(jù)處理與分析：接收到的光強(qiáng)信號(hào)經(jīng)過(guò)統(tǒng)計(jì)學(xué)和光譜分...
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束流收集器的測(cè)量基本原理是將束流能量轉(zhuǎn)化為可測(cè)量的信號(hào)，通過(guò)特定裝置實(shí)現(xiàn)束流強(qiáng)度、位置等參數(shù)的獲取，以下是詳細(xì)介紹：能量轉(zhuǎn)化與信號(hào)測(cè)量束流本身不可見(jiàn)、不可直接測(cè)量，需將其轉(zhuǎn)化為可觀(guān)測(cè)的光信號(hào)或可處理的電信號(hào)，以此反饋束流特征。例如法拉第筒法，當(dāng)被測(cè)電子束入射到法拉第筒的電荷收集體中，與收集體物質(zhì)發(fā)生相互作用而被阻止時(shí)，產(chǎn)生激勵(lì)電流，電流流經(jīng)低感電阻，產(chǎn)生正比于束流強(qiáng)度的瞬時(shí)電位，從這個(gè)電位可以推算出所測(cè)束流強(qiáng)度。束流位置探測(cè)原理電子束團(tuán)在運(yùn)動(dòng)過(guò)程中，在其周?chē)鷷?huì)產(chǎn)生電場(chǎng)和磁場(chǎng)。...
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激光測(cè)厚儀憑借其準(zhǔn)確的特性，已成為現(xiàn)代工業(yè)與科研的重要工具。盡管存在使用條件限制，但其在無(wú)損檢測(cè)、自動(dòng)化生產(chǎn)中的價(jià)值不可替代。隨著技術(shù)迭代，未來(lái)有望在更多領(lǐng)域發(fā)揮關(guān)鍵作用。激光測(cè)厚儀主要由以下部分組成：1.激光發(fā)射系統(tǒng)：產(chǎn)生高穩(wěn)定性激光束，需具備準(zhǔn)確的頻率和功率控制。2.接收與分析系統(tǒng)：包括光電傳感器、放大器及算法處理器，負(fù)責(zé)接收反射信號(hào)并轉(zhuǎn)換為厚度數(shù)據(jù)。3.機(jī)械裝置：用于固定和調(diào)整激光探頭的位置，確保測(cè)量對(duì)準(zhǔn)。4.軟件界面：實(shí)時(shí)顯示厚度數(shù)值，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)與分析。激光測(cè)厚儀的...
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當(dāng)光進(jìn)入Lumetrics測(cè)厚儀的干涉儀后，輸入光被等比例分束成為兩束光。這兩束光頻率相同、振動(dòng)方向相同，但具有穩(wěn)定的相位差，并沿不同光路傳播。在輸出端重新匯合...
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激光測(cè)厚儀是一種基于激光技術(shù)的高精度非接觸式測(cè)量設(shè)備，通過(guò)發(fā)射激光束并捕捉反射信號(hào)，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料厚度的實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)。其核心優(yōu)勢(shì)在于突破傳統(tǒng)接觸式測(cè)量的局限，以微米級(jí)精度滿(mǎn)足現(xiàn)代工業(yè)對(duì)品質(zhì)控制的嚴(yán)苛需求，成為航空航天、汽車(chē)制造、新能源等領(lǐng)域的核心檢測(cè)工具。一、技術(shù)原理：雙傳感器對(duì)射與三角測(cè)距的精密融合激光測(cè)厚儀的核心技術(shù)可分為兩大體系：雙激光位移傳感器對(duì)射法與三角測(cè)距原理。雙傳感器對(duì)射法：設(shè)備上下各配置一臺(tái)激光位移傳感器，分別測(cè)量被測(cè)物體上表面與下表面的空間坐標(biāo)。通過(guò)計(jì)算兩傳感...
3-17
應(yīng)力雙折射檢測(cè)是一種重要的光學(xué)檢測(cè)技術(shù)，它基于應(yīng)力對(duì)材料光學(xué)性質(zhì)的影響，通過(guò)測(cè)量光線(xiàn)在應(yīng)力作用下的偏折現(xiàn)象來(lái)評(píng)估材料的應(yīng)力狀態(tài)。應(yīng)力雙折射，又稱(chēng)光彈性效應(yīng)，是指透明的各向同性介質(zhì)在受到壓力或張力的作用時(shí)，其折射率特性會(huì)發(fā)生變化，從而顯示出光學(xué)上的各向異性。這種現(xiàn)象導(dǎo)致光線(xiàn)在穿過(guò)應(yīng)力場(chǎng)時(shí)會(huì)發(fā)生偏折，且偏折程度與應(yīng)力大小成正比。當(dāng)材料受到外力作用時(shí)，其內(nèi)部分子結(jié)構(gòu)會(huì)發(fā)生變化，導(dǎo)致電性質(zhì)也發(fā)生變化，進(jìn)而影響到光線(xiàn)的折射率。這種折射率的變化使得光線(xiàn)在穿過(guò)材料時(shí)發(fā)生偏折，形成應(yīng)力雙折射...
12-26
光束質(zhì)量分析儀的基本原理是通過(guò)測(cè)量光束在空間上的偏離程度來(lái)評(píng)估光束的質(zhì)量。這種偏離程度可以通過(guò)測(cè)量光束的多個(gè)參數(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)，包括但不限于發(fā)散角、束腰位置、束腰直徑以及光強(qiáng)分布等。具體來(lái)說(shuō)：光強(qiáng)分布測(cè)量：利用高精度的光學(xué)系統(tǒng)和電子設(shè)備，捕捉并分析激光光束的光強(qiáng)分布。這通常包括計(jì)算光束的光強(qiáng)二階矩，以及使用雙曲線(xiàn)擬合法等數(shù)學(xué)方法來(lái)計(jì)算光束的束腰寬度和遠(yuǎn)場(chǎng)發(fā)散角。參數(shù)計(jì)算：基于測(cè)量的光強(qiáng)分布，分析儀可以進(jìn)一步計(jì)算出光束的質(zhì)量因子(如M?因子)，這是衡量光束聚焦性能的重要指標(biāo)。同時(shí)，還可...
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激光測(cè)量